保護膜/膠帶薄膜基材形態(tài)學觀察技術
發(fā)布時間:2019-05-06
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形態(tài)學觀察不僅是對偏光膜的外部檢查(偏光膜的外觀十分關鍵)具有重要作用,而且在產品設計和缺陷分析方面也發(fā)揮著重要作用。 在形態(tài)觀察中會用到各類顯微鏡(掃描電子顯微鏡 (SEM)、透射式電子顯微鏡 (TEM)、掃描探針顯微鏡 (SPM))以及激光顯微分析 (LM) 和表面光度儀,這意味著可以觀察尺寸可大到幾十厘米,小到幾毫微米。 還需考慮預加工方法,這樣可使觀察更有效。
聚合物分離膜結構分析
水處理中使用的聚合物分離膜經過多項分析后可輔助新產品的開發(fā)。 所用的技術包括掃描電子顯微鏡檢查法 (SEM)、能量色散 X 射線分析 (EDX)、傅立葉變換紅外光譜學 (FT-IR) 及一系列表面分析技術,如掃描探針顯微術 (SPM) 及膜表面電位測定法。 也可采用這些評估技術調查污染源,此外,此類技術也有助于故障排除及類似任務。